Post #581

В ИОНХ РАН открыт прием заявок на обучение по программе повышения квалификации «Растровая электронная микроскопия для изучения микроструктуры материалов» с выдачей свидетельства о повышении квалификации государственного образца. Курс «Растровая электронная микроскопия для изучения микроструктуры материалов» направлен на ознакомление с основами метода растровой (сканирующей) электронной микроскопии, а также сопряженных методов анализа (рентгеноспектральный микроанализ и дифракция отраженных электронов), формирование представления об устройстве электронных микроскопов и современных инструментальных возможностях методов при исследовании различных материалов. В рамках курса будут рассмотрены физические основы электронной микроскопии, изучены реальные случаи применения электронной микроскопии при исследовании микроморфологии, структуры и состава объектов. Курс будет полезен научным сотрудникам и начинающим операторам, позволит грамотно спланировать проведение экспериментов на растровом электронном микроскопе, а также поможет в достоверной интерпретации полученных результатов. С аннотацией программы и другими направлениями деятельности ИОНХ РАН по дополнительному образованию можно ознакомиться на сайте института http://www.igic.ras.ru/add_prof_ed.php Продолжительность курса — 5 дней (очно), по 6 академических часов в день. Количество мест в группе ограничено - не более 10 человек. Обучение будет проходить в ноябре-декабре 2022 г. Место проведения – г. Москва, Ленинский проспект, 31, ИОНХ РАН. Стоимость участия – 29 000 рублей с человека. Заявки на обучение в свободной форме можно направлять по адресу: [email protected] #ионх